El microscopio metalográfico de contraste de fase de interferencia diferencial positivo a gran escala xjl - 302dick es adecuado para la observación de contraste de fase de interferencia diferencial reflectante de la morfología superficial de los objetos opacos, así como para la observación microscópica de perspectiva de los objetos transparentes. Con un excelente sistema óptico infinitamente lejano y un concepto de diseño funcional modular, se puede actualizar fácilmente el sistema, realizar funciones como la observación de luz polarizada y la observación de contraste de fase de interferencia diferencial. el cuerpo principal compacto y estable de alta rigidez refleja plenamente los requisitos antivibración de la microadministración. El diseño ideal que cumple con los requisitos de ergonomía hace que la operación sea más conveniente, cómoda y más amplia. Es adecuado para la observación microscópica de la estructura metalográfica y la morfología de la superficie, y es un instrumento ideal para la investigación de metales, minerales e ingeniería de precisión.